【学术讲座】王志君:XPS技术及应用

发布日期:2026-11-02    浏览次数:

主讲人简介:

王志君,女,博士,成都大学高等研究院特聘研究员。目前主要研究方向:等离子体催化、等离子体与材料相互作用、等离子体放电及等离子体化学应用等。近年来,主持国家自然科学基金青年基金1项,作为子项目负责人参与国家自然科学基金区域创新基金重点项目1项;在国际知名期刊上发表SCI学术论文20余篇。


主讲内容简介:

XPS,全称为X-ray Photoelectron Spectroscopy(X射线光电子能谱),是一种基于光电效应原理发展起来的表面分析技术。其基本工作方式是:使用电子谱仪测量X射线光子辐照样品表面时所发射出的光电子和俄歇电子的能量分布,从而获取材料表面的电子结构信息。具体而言,该技术通过收集在入射X光作用下从材料表面激发的电子能量、强度等信息,对材料表面进行定性、定量和结构鉴定的表面分析方法,能够有效识别表面元素的种类、化学价态及其相对含量,在材料科学、化学、物理学等领域具有广泛的应用价值。此外,本讲座将针对分析测试中心现有的XPS仪器特性进行详细介绍,包括仪器的技术参数、功能特点、适用样品范围及测试注意事项等内容,面向校内广大师生系统讲解XPS测试的相关知识,助力科研工作的顺利进行。


时间:2026年11月6日(星期五)13:15

地点:  12116

主办单位: 高等研究院


一审:周季欣

二审:马晓黎

三审:蔡业新